A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Éléktron Mikroskop Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x~800000x Featured Image

Pedaran pondok:

15x ~ 800000x Schottky Field Emission Gun Scanning Éléktron Mikroskop
Akselerasi E-Beam Kalayan Stam Balok Suplai Saatos Gambar Anu Saé Dina Tegangan Rendah
Sampel Non Konduksi Tiasa Dititénan Langsung Henteu Kedah Kacatur Dina Tegangan Rendah
Antarmuka Operasi Gampang & Ramah, Sadayana Dikendali Ku Mouse dina Sistem Windows
Kamar Sampel ageung Sareng Lima Sumbu Eucentric Stage Diagram Ukuran ageung, Max Spesimen Dia.320mm
Jumlah minimum order:1

Detil Produk

Tanda Produk

A63.7081_01.jpg

Panjelasan Produk

A63.7081 Schottky Widang Émisi Gun Mikroskop Éléktron Éléktronik Pro FEG SEM
Resolusi		1nm @ 30KV (SE); 3nm @ 1KV (SE); 2.5nm@30KV (BSE)
Gedekeun		15x ~ 800000x
Gun éléktron		Gun Éléktron Émisi Schottky
Éléktron Balok Ayeuna		10pA ~ 0.3μA
Nyepetkeun Voatage		0 ~ 30KV
Sistem vakum		2 Pompa Ion, Pompa Molekuler Turbo, Pompa Mékanis
Detéktor		SE: Detektor Éléktron Éléktrék Sekundér Vakum (Kalayan Perlindungan Detéktor)
		BSE: Detik Semikonduktor Opat Segmentasi Balik Nyebarkeun
		CCD
Panggung Spesimen		Lima Panggung Eucentric Diagram Panggung
Rentang Wisata	X	0 ~ 150mm
	Y	0 ~ 150mm
	Z	0 ~ 60mm
	R	360º
	T	-5º ~ 75º
Max Spesimen Diaméterna		320mm
Modifikasi		EBL; STM; AFM; Panggung pemanasan; Panggung Cryo; Panggung tarik; Manipulator Mikro-nano; Mesin Lapisan SEM +; SEM + Laser Jst.
Asesorisna		Detektor X-Ray (EDS), EBSD, CL, WDS, Mesin Lapisan Jst.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Kauntungan sareng Kasus

Mikroskop éléktron éléktron (sem) cocog pikeun niténan topografi permukaan logam, keramik, semikonduktor, mineral, biologi, polimér, komposit sareng skala nano skala hiji-diménsi, dua diménsi sareng bahan tilu diménsi (gambar éléktron sekundér, gambar éléktron backscattered). Éta tiasa dianggo pikeun nganalisis komponén titik, garis sareng permukaan microregion. Hal ieu seueur dianggo dina minyak bumi, géologi, médan mineral, éléktronika, médan semikonduktor, ubar, médan biologi, industri kimia, poliérat lapangan panyilidikan kriminal ngeunaan kaamanan masarakat, tatanén, kehutanan sareng bidang sanés.